JEOL
INCA Energy
15년
부대장비(부가장치) (주장비:주사전자현미경)
계측
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > 달리 분류되지 않는 분광분석장비
공동활용서비스
2010-04-06
95,776,220원
직접사용
이동형
기타
30,000원
- 전자현미경을 이용한 시료의 표면 분석과 동시에 표면의 정성 분석
- 극 미세 시료 표면 미지 시료의 정성/정량 분석
- 특정 물질의 시료 표면 분포도 측정 및 분포 형상 측정.
- Designed to maximise throughput and low energy sensitivity
- Excellent resolution with guaranteed Mn specification at 50,000 cps
- Optimised take-off angle for best peak-to-background ratios and light element detection