(주)두성기술
DS2000HP
10년
주장비
시험
전기/전자장비 > 측정시험장비 > 광/LED/반도체/디스플레이측정시험장비
공동활용서비스
2022-04-06
413,426,000원
JEDEC,AEC-Q101
소자의 Drain-Source 간에 고온 역방향 바이어스(High Temperature Reverse Bias)를 인가하여 누설 전류와 온도 변화를 시험하며, 장시간(1000시간) 동안 신뢰성 시험을 하는 장비
전력 반도체 소자(FET, IGBT, Power TR) 분석을 위한 신뢰성 테스트 시스템으로 소자의 Drain-Source 간에 고온 역방향 바이어스(High Temperature Reverse Bias)를 인가하여 누설 전류와 온도 변화를 시험하는 장비
기관의뢰
고정형
시간별
200,000원
전력 반도체 소자(FET, IGBT, Power TR) 분석을 위한 신뢰성 테스트 시스템으로 소자의 Drain-Source 간에 고온 역방향 바이어스(High Temperature Reverse Bias)를 인가하여 누설 전류와 온도 변화를 시험하는 장비
HTRB (1set)
- HTRB Test System
: Stress voltage(Max. ±2000VDC)
: Temperature(Room ~ 200°C)
: Capacity(Total 36 DUTs)
: Diagnostic test board(1ea)
: Total Power Supplies(2ea)
- HTRB Board
: Polymide, 420X600mm, 6DUT/Board, Room~175C