Bruker
S2 PUMA Series 2
10년
주장비
분석
화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
공동활용서비스
2024-12-03
158,317,800원
없음
- X-ray tube에S 고전압-전류가 인가되어. X-선이 방출되고 방출된 X-선이 시료에 조사되면 시료 내에 존재하는 원소의 궤도 내 전자를 여기 시키고, 여기 상태 전자가 기저상태로 돌아가면서 각 원소에 따라 특성 형광 X선이 방출됨, 방출된 형광 X-선이 분광 결정에 의해 회절 된 후 검출기를 거쳐 분석결과를 얻을 수 있는 장비
- 비파괴 분석방법으로 시료에 X-선을 주사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X-선을 이용하여 분석하는 장비
- 각 원소별 발생하는 형광 에너지의 크기가 다른 점을 이용하며 측정되는 형광 분석 강도는 시료의 원자번호에 비례하기 때문에 탄소복합소재 내에 미지의 원소에 대해 원소를 특정하여 특성 분석
* EDXRF – Bruker S2 PUMA Series 2
- Analysis range : Carbon to Americium
- Max. X-ray Power : 50 W | Max. Generator : 50 kV | Max. Current : 2 mA
- X-ray tube type : Ag anode and Be window
- Auto Sampling : X-Y 타입 22개 or Carousels 20개
- Beam Filter exchanger : 10개 position
- Detector 분해능 : <132 eV @ Mn 100,000 cps Ka1
- Detector 처리 용량 : 2,400,000 cps
- Detector type : Peltier cooled Silicon Drift Detector
- Liquid Nitrogen Free (LNF)
- Analysis mode : 진공모드, 헬륨, Air 모드
- 액상, 분말시료 자동 Detection 기능
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 100,000원
- XRF는 비파괴 분석방법으로 시료의 화학적 변화 없이 분석이 가능하며, 다양한 형태의 시료 분석이 가능하다.
- 경원소를 제외한(일반적으로 Na까지)하고 U까지의 전원소를 넓은 농도 범위에서 신속하게 분석할 수 있다.
- 화학 시료에서부터 지질, 제강, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석이 가능하다.
- 일정한 작동 조건에서 얻어지는 형광 X-선은 재현성이 좋고, 분석하고자하는 시료와 유사한 matrix를 가진 표준물질이 있으면 정확한 정량 및 정성 분석이 가능하다.
1.EDXRF
– Bruker S2 PUMA Series 2
- Basic unit for compact chamber
- Sample chamber DIrect Excitation
- XY Autochanger, with 20 positions, automatic
- Generator 50 kV
2.Analysis & Control Software
- SPECTRA.ELEMENTS
- 레벨, 탭 기반 구성, 맞춤형 뷰, Alpha 보정, LIMS 호환 및 Auto-Matrix 등
3.Operating PC
- window 11