Malvern Panalytical

없음

본 장비는 분말·벌크 시료의 결정구조와 상을 분석하기 위한 X선 회절(XRD) 시스템으로, Empyrean 회절계에 고성능 1Der/PIXcel 계열 선형 검출기를 장착해 빠르고 고분해능의 회절 패턴을 수집합니다. Cu 등 여러 타깃의 X선을 사용하며, 스트립 크기 70 ㎛, 수백 채널의 1D 위치 민감 검출로 높은 카운트율과 선형성을 확보하여 미세 피크도 정밀하게 측정할 수 있습니다. 브래그-브렌타노 기하, 다양한 슬릿·솔러 슬릿·필터 모듈과 연동되어 저배경, 높은 S/N 비의 데이터를 자동으로 취득·저장·뷰잉(XRDML 변환 포함)하는 기능을 제공합니다.

본 장비는 분말·박막·벌크 시료의 결정구조, 상 분석, 결정성 평가를 위한 X선 회절 분석 시스템으로, 공정·소재 연구에서 표준 회절 데이터 생산을 담당합니다. Empyrean 회절계와 1Der 다중 스트립 선형 검출기를 조합해, 고속 스캔과 높은 각도 분해능을 동시에 확보하여 다상 시료의 피크 분리 및 미세 구조 변화를 정밀하게 측정합니다. 검출기는 70 ㎛ 채널 간격의 120~127채널, 최대 3.84×10⁷ cps 카운트율, 0~1.7×10⁶ cps 구간 선형성, 340 eV(8 keV 기준) 에너지 분해능을 제공해 형광·브렘스트랄룽 기인 잡음을 효과적으로 제거합니다. Cu 등 다양한 타깃과 모노크로메이터, 반산란·솔러 슬릿 조합으로 저배경 고 S/N 패턴을 얻을 수 있으며, 0.00252° 수준의 최소 스텝과 자동 빔 경로 설정·프로그램 측정 기능으로 반복 재현성이 높은 데이터 수집이 가능합니다.