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Shimadzu

화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기

없음

시료에 X선을 쬐었을 때 발생하는 원소별 고유 형광 X선의 에너지와 세기를 측정해 Al부터 U까지의 무기원소를 정성·정량 분석함 전처리 없이 고체·액체·분말 시료를 그대로 비파괴로 측정할 수 있으며, 시료 관찰 카메라와 조사 면적 선택 기능으로 부품의 특정 부위까지 신속하게 분석할 수 있음 고분자, 금속, 전자부품, 도료 등 제품·소재 중 유해 중금속(Pb, Cd, Hg, Cr)과 브롬(Br) 등 유해 원소의 스크리닝 분석에 활용함

- 각종 제품·소재 중 무기원소를 비파괴로 신속하게 분석해 유해 원소 스크리닝, 원소 조성 확인, 습식 정밀분석 대상 시료 선별을 맡는 무기분석 장비임 -시료에 X선을 쬐어 발생한 원소별 고유 형광 X선을 반도체 검출기로 측정하고, 에너지로 원소를 확인하고 세기로 함량을 정량함 -측정 원소 ₁₃Al–₉₂U, Rh 타깃 X선관 5–50 kV·최대 1,000 µA, 조사 면적 1·3·5·10 mm φ, 최대 시료 크기 W 370 × D 320 × H 155 mm, 측정부터 결과까지 약 5분 내외의 성능을 가짐 -1차 필터 5종 자동 교환, 시료 관찰 카메라, 기동 시 에너지·정량 자동 점검, 검량선 자동 선택, FP·BG 내부표준 보정, 적합·부적합·경계 자동 판정 기능을 갖추고, 옵션 키트로 Cl·Sb 스크리닝까지 활용 범위를 넓힐 수 있음