Fischione
Nanomill 1040
5년
주장비
분석
광학/전자영상장비 > 카메라/영상처리장비 > 달리 분류되지 않는 카메라/영상처리장비
2026.07.27.
₩594,700,000
없음
- 본 장비는 초저에너지 집속 Ar 이온빔을 이용하여 TEM 시편의 특정 영역을 정밀하게 밀링할 수 있는 최종 시료 전처리 장비로, FIB 공정 완료 후 시료 표면에 형성된 오염 및 비정질층을 효과적으로 제거하고, 미세 밀링을 최적화할 수 있는 장비임 - OLED용 고기능성 코팅/필름 소재의 계면 구조나 층간 결함 등 수 나노미터 단위의 미세구조 분석을 위한 고정밀 시편 제작 장비에 필수적이며, 고해상도 TEM 분석을 위한 고품질 초박막 시편 제작에 활용할 수 있어 사업 목적에 적극 부합하는 장비임
- 워크스테이션 본체 1개 - 오버헤드형 고점도 및 저점도 정량 투입 모듈 1개 - 오버헤드형 분체 정량 투입모듈 1개 - 바이얼 또는 바틀 이송형 멀티 그립퍼 모듈 1개 - 바닥형 저울 모듈 1개 - 시료 배합 반응기 모듈 1개 - 반응기 온도조절 모듈 1개
기관의뢰
고정형
건별
[EA] ₩100,000
-FIB 공정 시 발생한 비정질 층을 저에너지 Ar 이온빔을 통해 효과적으로 제거
-FIB 공정 시 발생한 Ga 이온 침착 영역을 효율적으로 제거
-고집속 Ar 이온빔을 사용함으로써 Nanomill 공정 중 발생할 수 있는 Cu grid 밀링 및 재침착 방지
-FIB 공정 한계보다 얇은 두께로 밀링이 가능하여 고정밀 TEM 분석에 적합
1. Ion sources : 1set
1) electrostatic lens 시스템과 결합된 Filament 기반 ion source
2) Variable voltage (50eV ~ 2kV), 조절 가능
3) 최대 Beam 전류 밀도 : 1mA/cm²2
4) 최소 Beam 직경 2microns
5) 1picoamp to2,000 picoamps 범위의 ion beam 전류 모니터링용
6) 교체형 apertures
2. 시편 stage
1) Load lock을 통해 10초 이내 시편 교체 가능
2) 시편 교체용 transfer rod
3) Milling 각도 범위 : -10° ~ +10°
3. 진공 System
1) 오일 프리 diaphragm pump로 백업된 Turbo molecular drag pump
2) 대기압 1×10⁻⁸ mbar 범위의 cold cathode 및 pirani gauge 조합에 의한 챔버 진공 측정
3) 시스템 기본 진공도 : 3×10⁻⁷ mbar
4) operation 진공도 : 1×10⁻⁴ mbar
4. 공정 Gas
1) 질량 유량 제어 기술을 이용한 자동 제어
2) Argon : 99.999%
3) ion source당 약 0.2 sccm Flow rate/ 공급 압력 15psi 필요
5. 사용자 Interface
1) 메뉴 기반 인터페이스
2) 시스템 상태 표시가 포함된 프로그래밍 가능한 milling 사이클
6. Sample 조명
1) 시편 교체를 용이하게 하는 사용자 제어 챔버 조명
7. 자동 종료
1) 시간 또는 온도에 의한 공정 종료
8. 시편 cooling
1) 자동 온도 interlock이 포함된 액체질소 전도 냉각
2) 스테이지 온도 : -175°C
3) 시스템 냉각 시간 : 20분 이내