이차전지연구센터

구미전자정보기술원

보유장비현황

장비정보

  • 제작사

    Rigaku

  • 모델 명

    SmartLab

    내용연수

    10년

  • 구분

    주장비

    용도

    분석

  • 표준 분류

    화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기

  • 취득일

    2024.04.29.

    취득금액

    ₩452,520,880

  • 인증정보

    없음

  • 기능

    X-선 회절분석기는 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라지는 X-선 회절각 및 강도를 측정하여 물질의 구조 정보를 정성/정량 분석하는 장비이다. 본 장비는 고출력(6kW)이상 X-선 발생장치를 사용하여 범용 XRD에서 관찰하기 어려운 미량 성분 분석이 용이하고, 고정밀 다축 회전 시료대 (Chi-Phi attachment & Z-axis), in-plane system을 포함하고 있어 conventional XRD 뿐만 아니라 박막 시료의 Grazing Incidence XRD(GID), In-Plane 측정 분석이 가능하여 박막 특성 평가 등 재료 소재 관련 분석이 용이하다. 이차전지용 분말 측정을 위한 Basic Optic system 뿐만 아니라 CBO(Cross Beam Optic)를 장착하여 불필요한 요소(Kβ line , Background 등)를 제거하고 Rough surface에 의한 Peak shift 방지 할 수 있으며, Ge(220) Crystal (monochromator)를 포함한 Parallel Beam Optic System과 300mm Radius Goniometer 등 고분해능 시스템(High Resolution System)을 갖추고 있다.

  • 장비 상세설명

    1. 엑스선 발생장치 1) 최대 출력 : 6kW 이상 (1) 최대 전압 : 45kV 이상 (2) 최대 전류 : 150mA 이상 2) 엑스선원 (1) 타겟 : 구리(Cu) 타겟 (2) K-베타 필터 : 니켈(Ni) 필터 3) 안전 장치를 갖춘 방사선 차폐막 : 포함 2. 고니오미터 1) 기하구조 : 시료 수평형 세타/세타(θ/θ) 구조 2) 고니오미터 반경:300mm 이상 3) 최소 구동 단위 : 0.0001° 이하 3. 슬릿 광학계 1) 입사 슬릿(IS) : 자동 가변 슬릿 2) 수광 슬릿(RS) : 자동 가변 슬릿 3) 입사 솔러 슬릿 : 2.5도 4) 수광 솔러 슬릿 : 2.5도 5) 단색화 발산빔용 입사부 미러 광학계 (1) 변환빔 : K-알파 발산빔 또는 K-알파-1 발산빔 6) 단색화 평행빔용 입사부 미러 광학계 (1) 변환빔 : 구리(Cu) 방사선 평행빔 7) 저각 산란 백그라운드 저감 유닛 : 산란 방지 유닛(Scattering protector unit) 또는 동적 빔 최적화(Dynamic beam optimization) 4. 검출기 1) 타입 : 픽셀 배열 2D 검출기 2) 검출 면적 : 365mm² 이상 3) 픽셀 수 : 65,500개 이상 4) 에너지 분해능 : 380eV 이하 5) 픽셀 크기 : 75μm x 75μm 이하 6) 스캔 모드 : 2D & 1D, 0D 이상 7) 검출기 유지보수 - 냉각 장치, 액체 질소 및 가스 불요 5. 시료 장착부 1) 자동 시료 교환기 (1) 최대 장착 시료 수 : 10개 이상 (2) 시료 회전 기능 : 장착 (3) 알루미늄(φ24 x 2mm) 시료대 : 20개 이상 (4) 유리(φ18 x 0.5mm) 시료대 : 20개 이상 (5) 실리콘 단결정(φ5 x 0.2mm) 시료대 : 4개 이상 2) 다축 회전 시료대 (1) Chi-축 구동 범위 : -5도 ~ +95도 이상 (2) Phi-축 구동 범위 : -360도 ~ +360도 이상 (3) Z-축 구동 범위 : 11mm 이상 3) 벌크 시료대 (1) 최대 장착 크기 : 8인치 이상 4) 충방전 코인셀 거치대 (1) 반사법 측정 거치대 : 1개 이상 (2) 투과법 측정 거치대 : 1개 이상 5) 공기차폐 시료홀더 : 1개 이상 6. 소프트웨어 1) 엑스선 발생장치 제어 및 측정 조건 설정 2) 자동화 기능 - 광학센서에 의한 모든 광학 구성품 인식 및 제어 유닛에 의한 모니터링 3) 표준 측정 4) 측정 안내 기능 - 시스템 경고 및 부정확한 구성품에 대한 수정 안내 5) 수동 측정 6) 자동 정렬 - 고니오미터, 광학계 및 검출기 자동 정렬 7) 정성 및 정량 분석 8) 결정화도 및 결정립 크기 분석 9) 격자 상수 보정 10) 격자 왜곡 분석 11) 리트벨트 분석 12) 클러스터 분석 13) 반사도 측정 14) 배향도 분석 (PF & ODF) 15) 잔류 응력 분석 16) COD 데이터베이스

장비 사용법

  • 사용형태

    기관의뢰

    설치형태

    고정형

  • 사용료 형태

    건별

    장비 사용료

    [EA] ₩55,000